Normal view MARC view ISBD view

Точечные дефекты в полупроводниках. Теория : Пер. с англ. /

Ланно, Мишель.

Точечные дефекты в полупроводниках. Теория : Пер. с англ. / Point Defects in Semiconductors М.Ланно, Ж.Бургуэн ; Пер. Ю.М. Гальперина и др. ; Под ред. В.П. Гуревича. - Москва : Мир, 1984. - 264 с. ; 21 см.

Subjects--Topical Terms:
Полупроводники
Электричество
Физика полупроводников

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Send to device
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org) ARAR ARMUNICAT HAYGIRK