No cover image available
Основы теории и общие методы патентной экспертизы / Г. Н. Анисов, И. И. Кичкин, Н. М. Мадатов, Э. П. Скорняков; Центр. ин-т повышения квалификации руководящих работников и специалистов народного хозяйства в области патентной работы; Под ред. В. Н. Бакастова.
Contributor(s): Кичкин, И. И
| Мадатов, Н. М | Анисов, Г. Н | Скорняков, Э. П | Бакастов, В. Н [ред.] | Центральный институт повышения квалификации руководящих работников и специалистов народного хозяйства в области патентной работы Material type: 
TextLanguage: Russian Publication details: Москва : Б. и. Description: выпускSubject(s): Патентная экспертиза
Incomplete contents:
Вып. 2 (1973, 40 с.)
| Item type | Current library | Collection | Call number | Vol info | Status | Notes | Date due |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/318816 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 30 Days Loan | ||
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/313795 (Browse shelf(Opens below)) | Вып. 2 | Available | 30 Days Loan |
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
There are no comments on this title.