Тезисы докладов всесоюзного симпозиума "Статистические измерения и применение микромашинных средств в измерениях", г. Вильнюс, 19-22 окт. 1982 г.
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Ленинград : Б. и., 1982Description: секцияSubject(s): Метрология - Статистические методы - Тезисы докладов | Информационные системы измерительные - Тезисы докладов | Случайные процессы [мат.] - Статистические методы изучения - Тезисы докладов| Item type | Current library | Collection | Call number | Vol info | Status | Notes | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/507142 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 1 | Available | 30 Days Loan | FL0220336 | |
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/507143 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 2 | Available | 30 Days Loan | FL0220337 | |
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/507144 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 3 | Available | 30 Days Loan | FL0220338 | |
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/507145 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 4 | Available | 30 Days Loan | FL0220339 |
Библиогр. в конце докл.
Секция 1. (107 c.: ил.) : Теория погрешностей и метрологическое обеспечение измерений вероятностных характеристик; Секция 2. (127 c.: ил.) : Средства измерения вероятностных характеристик; Секция 3. (122 c.: ил.) : Представление и моделирование случайных процессов и полей; Секция 4. (144 c.: ил.) : Методы и алгоритмы измерения вероятностных характеристик
Науч. совет АН СССР по пробл. электр. измерений и измер. информ. систем, ВНИИ электроизмер. приборов
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
There are no comments on this title.