Fundamental Scientific Library of NAS RA

Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой.

By: Боуэн, Д.КContributor(s): Таннер, Б.К | Шульпина, И.Л [ред., пер] | Шульпина, И.Л [пер.] | Аргунова, Т.С [пер.]Material type: TextTextPublication details: Санкт-Петербург : Наука, 2002Description: 273 с. илISBN: 5020249637Other title: High resolution x-ray diffractometry and topographySubject(s): Электронная техника | Кристаллофизика | Радиотехнические материалы и изделия -- Полупроводниковые материалы -- Исследования -- Рентгеновские методы исследований | Анализ эпитаксиальных слоев | Анализ тонких пленок и многослойных систем
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Collection Call number Status Notes Date due Barcode
Գրքեր/Books Գրքեր/Books Fundamental Scientific Library
General 621.38 (Browse shelf(Opens below)) Available 30 Days Loan 120649677

Библиогр. в конце гл.

There are no comments on this title.

to post a comment.


ՀՀ ԳԱԱ հիմնարար գիտական գրադարան
ՀՀ,Երևան 0019
Մարշալ Բաղրամյան 24/6
հեռախոս:(374-10) 52-47-50
Հետադարձ կապ

All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
Creative Commons License