Pleskacz, Witold A. <br/><br/>
Analiza topografii ukladow scalonych VLSI pod katem ich produkowalnosci / 
Witold A. Pleskacz. 
 - Warszawa :  Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej,  2009. 
 - 119 p. :  ill. 
 - Prace naukowe. Elektronika/ Politech. warszawska  Z. 172  0137-2343 .
 - Politechnika warszawska  Z. 172 .
<br/><br/>Includes bibliogr. references : (p. 107-116) 
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>VLSI integrated circuits- Critical area- Test vectors generation