TY  - BOOK
AU  - Pleskacz,Witold A.
ED  - Politechnika warszawska
TI  - Analiza topografii ukladow scalonych VLSI pod katem ich produkowalnosci
T2  - Prace naukowe. Elektronika/ Politech. warszawska
PY  - 2009///
CY  - Warszawa
PB  - Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej
KW  - VLSI integrated circuits- Critical area- Test vectors generation
N1  - Includes bibliogr. references : (p. 107-116)
ER  -