Fundamental Scientific Library of NAS RA

Your search returned 2 results.

Sort
Unhighlight Highlight
Select all Clear all
Select titles to:
Results
Точечные дефекты в полупроводниках : Экспериментальные аспекты / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; Пер. Ю.М. Гальперина и др. ; Под ред. В.Л. Гуревича.

by Бургуэн, Жак | Ланно, Мишель | Гальперин, Ю.М [пер.].

Material type: Text Text Language: Russian Publication details: Москва : Мир, 1985Availability: Items available for loan: 2 Call number: PII/631516, ...

Place hold Add to cart
Точечные дефекты в полупроводниках. Теория : Пер. с англ. / М.Ланно, Ж.Бургуэн ; Пер. Ю.М. Гальперина и др. ; Под ред. В.П. Гуревича.

by Ланно, Мишель | Бургуэн, Жак | Гальперин, Ю.М [пер.] | Гуревич, В.Л [ред.].

Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Language: Russian Original language: English Publication details: Москва : Мир, 1984Other title: Point Defects in Semiconductors.Availability: Items available for loan: 2 Call number: PII/517503, ...

Place hold Add to cart
Pages


ՀՀ ԳԱԱ հիմնարար գիտական գրադարան
ՀՀ,Երևան 0019
Մարշալ Բաղրամյան 24/6
հեռախոս:(374-10) 52-47-50
Հետադարձ կապ

All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
Creative Commons License