Analiza topografii ukladow scalonych VLSI pod katem ich produkowalnosci /
Pleskacz, Witold A.
Analiza topografii ukladow scalonych VLSI pod katem ich produkowalnosci / Witold A. Pleskacz. - Warszawa : Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej, 2009. - 119 p. : ill. - Prace naukowe. Elektronika/ Politech. warszawska Z. 172 0137-2343 . - Politechnika warszawska Z. 172 .
Includes bibliogr. references : (p. 107-116)
VLSI integrated circuits- Critical area- Test vectors generation
Analiza topografii ukladow scalonych VLSI pod katem ich produkowalnosci / Witold A. Pleskacz. - Warszawa : Oficyna wydaw. Politech. warszawskiej, 2009. - 119 p. : ill. - Prace naukowe. Elektronika/ Politech. warszawska Z. 172 0137-2343 . - Politechnika warszawska Z. 172 .
Includes bibliogr. references : (p. 107-116)
VLSI integrated circuits- Critical area- Test vectors generation
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a